掃描電鏡樣品的污染物如何去除?
在掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)成像過程中,樣品上的污染物會嚴重影響成像質量和分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-05
在掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)成像過程中,樣品上的污染物會嚴重影響成像質量和分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-05
在掃描電鏡(SEM)中,電磁透鏡的作用主要是用來聚焦和控制電子束,使其能夠精準地掃描樣品表面,從而獲得高分辨率的圖像和精確的分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-05
在掃描電鏡(SEM)中,掃描模式 是決定如何對樣品表面進行電子束掃描的設置。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-04
選擇掃描電鏡(SEM)的探測器對于獲得高質量圖像至關重要。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-04
在掃描電鏡(SEM)中,邊緣效應(Edge Effect)是指當電子束掃描到樣品邊緣時,由于樣品厚度突然變化或電荷積累,導致邊緣區域產生過亮或過暗的現象,影響圖像質量和定量分析的準確性。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-03
判斷掃描電鏡(SEM)樣品的導電性是否足夠,對于獲得清晰、無偽影的圖像至關重要。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-03
掃描電鏡(SEM)圖像的后期處理和增強可以幫助提高圖像質量,揭示更多細節,或者使圖像更加適合展示和分析。
MORE INFO → 行業動態 2025-02-28
在掃描電鏡(SEM)中分析易揮發性樣品時,由于這些樣品容易在真空環境下蒸發或改變其物理狀態,因此需要特別的處理和預處理方法。
MORE INFO → 行業動態 2025-02-28