掃描電鏡圖像質(zhì)量差時(shí)，如何調(diào)節(jié)探針的聚焦？

在掃描電鏡（SEM）中，探針的聚焦對(duì)圖像的質(zhì)量至關(guān)重要。若圖像質(zhì)量差，可能是由于電子束的聚焦不正確或探針的參數(shù)設(shè)置不合適。

如何處理易揮發(fā)性樣品以適應(yīng)掃描電鏡分析？

處理易揮發(fā)性樣品以適應(yīng)掃描電鏡（SEM）分析是一個(gè)需要細(xì)致考慮樣品穩(wěn)定性和電鏡操作條件的過(guò)程。

在掃描電鏡（SEM）觀察過(guò)程中，處理樣品中的水分和氣體是非常重要的，因?yàn)檫@些因素可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或損害樣品。

排除掃描電鏡（SEM）中的電源問(wèn)題是確保儀器正常工作、提高圖像質(zhì)量的重要步驟。

掃描電鏡（SEM）出現(xiàn)過(guò)度加熱可能會(huì)對(duì)樣品、探測(cè)器、甚至設(shè)備本身造成損害，因此及時(shí)采取降溫措施是至關(guān)重要的。

掃描電鏡（SEM）圖像模糊可能由多種因素引起，如電子束聚焦不準(zhǔn)、樣品表面不平、掃描參數(shù)設(shè)置不當(dāng)?shù)取?/p>

在掃描電鏡（SEM）中，工作距離（Working Distance, WD）和景深（Depth of Field, DOF）之間有著密切的關(guān)系。

在掃描電鏡（SEM）中，不同的加速電壓會(huì)顯著影響成像質(zhì)量、分辨率和樣品表面的觀察效果。