掃描電鏡樣品臺(tái)可以調(diào)角度嗎？有什么作用？

掃描電鏡（SEM）樣品臺(tái)通常可以調(diào)節(jié)角度，這是樣品臺(tái)設(shè)計(jì)中的一個(gè)重要功能，具體包括傾斜（tilt）和旋轉(zhuǎn)（rotate）兩個(gè)方向的調(diào)節(jié)。

掃描電鏡圖像突然變暗可能是什么原因？

掃描電鏡（SEM）圖像突然變暗可能由多種因素引起，需從電子束系統(tǒng)、信號(hào)檢測(cè)、樣品狀態(tài)及環(huán)境條件等方面逐步排查。

掃描電鏡（SEM）圖像模糊通常是由于聚焦不準(zhǔn)或像散（Astigmatism）未校正所致。

掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋或拖影（smearing、streaks、drag）現(xiàn)象，通常反映了電子束掃描、樣品狀態(tài)或系統(tǒng)穩(wěn)定性的問(wèn)題。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中進(jìn)行圖像的定量測(cè)量，關(guān)鍵在于圖像已正確標(biāo)定、設(shè)備設(shè)置精確，以及測(cè)量方法規(guī)范。

在掃描電鏡（SEM）成像中，加速電壓的選擇會(huì)直接影響圖像的分辨率、對(duì)比度、表面靈敏度和樣品損傷程度。

掃描電鏡（SEM）的電子束聚焦與掃描是成像的核心機(jī)制，整個(gè)過(guò)程涉及電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)和掃描線圈等部件，目的是將電子束精準(zhǔn)地聚焦成細(xì)小的束斑，并以系統(tǒng)控制的方式逐點(diǎn)掃描樣品表面。

在掃描電鏡（SEM）成像過(guò)程中，調(diào)整焦距（Focus）是獲得清晰圖像的關(guān)鍵步驟。