掃描電鏡偽影的類型與消除技巧

掃描電鏡（SEM）在成像時(shí)，如果樣品、儀器或操作條件不合適，就容易產(chǎn)生偽影。

如何提高掃描電鏡圖像對(duì)比度

提高掃描電鏡（SEM）圖像對(duì)比度，可以從電子束條件、樣品處理、探測(cè)方式和成像參數(shù) 四個(gè)方向入手：

掃描電鏡（SEM）的分辨率指的是能夠分辨樣品表面上兩個(gè)最小可分開(kāi)的特征點(diǎn)的能力，它不是單一因素決定的，而是由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)特性和樣品條件綜合影響的。

在掃描電鏡（SEM）成像中，電荷效應(yīng)主要出現(xiàn)在非導(dǎo)電樣品或絕緣材料上，當(dāng)電子束照射時(shí)，入射電子不能及時(shí)泄放，就會(huì)在樣品表面積累電荷，導(dǎo)致圖像發(fā)白、漂移甚至局部失真。

在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用時(shí)，除了產(chǎn)生成像信號(hào)，還可能引起對(duì)樣品的損傷。

在掃描電鏡（SEM）圖像中，識(shí)別噪聲主要依靠觀察圖像特征、定量分析和實(shí)驗(yàn)對(duì)比。

在掃描電鏡（SEM）中，噪聲主要來(lái)源于探測(cè)器信號(hào)的統(tǒng)計(jì)波動(dòng)（電子數(shù)有限）和電子學(xué)噪聲。

掃描電鏡（SEM）的成像依賴于電子束與樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的多種信號(hào)，這些信號(hào)攜帶了樣品的形貌、成分和結(jié)構(gòu)等信息。