掃描電鏡偽影的類型與消除技巧

掃描電鏡（SEM）在成像時，如果樣品、儀器或操作條件不合適，就容易產生偽影。

如何提高掃描電鏡圖像對比度

提高掃描電鏡（SEM）圖像對比度，可以從電子束條件、樣品處理、探測方式和成像參數四個方向入手：

掃描電鏡（SEM）的分辨率指的是能夠分辨樣品表面上兩個最小可分開的特征點的能力，它不是單一因素決定的，而是由電子光學系統、信號特性和樣品條件綜合影響的。

在掃描電鏡（SEM）成像中，電荷效應主要出現在非導電樣品或絕緣材料上，當電子束照射時，入射電子不能及時泄放，就會在樣品表面積累電荷，導致圖像發白、漂移甚至局部失真。

在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用時，除了產生成像信號，還可能引起對樣品的損傷。

在掃描電鏡（SEM）圖像中，識別噪聲主要依靠觀察圖像特征、定量分析和實驗對比。

在掃描電鏡（SEM）中，噪聲主要來源于探測器信號的統計波動（電子數有限）和電子學噪聲。

掃描電鏡（SEM）的成像依賴于電子束與樣品相互作用時產生的多種信號，這些信號攜帶了樣品的形貌、成分和結構等信息。