掃描電鏡中的“電荷積聚”現象怎么解決？
掃描電鏡（SEM）中的“電荷積聚”（Charging）現象是指非導電樣品在電子束照射下無法及時釋放電荷，導致電子在樣品表面積累。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-12
掃描電鏡（SEM）中的“電荷積聚”（Charging）現象是指非導電樣品在電子束照射下無法及時釋放電荷，導致電子在樣品表面積累。
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要保存高質量的掃描電鏡（SEM）圖片，需要從拍攝參數、文件格式、后期處理和存儲管理等方面進行系統優化。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-09
掃描電鏡（SEM）中樣品表面放電（充電效應）會嚴重干擾成像，表現為亮斑、圖像扭曲或閃爍。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-09
在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過能譜儀（EDS） 和 背散射電子（BSE）成像 實現。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-08
掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質（導電性、耐電子束能力、含水量等）而異。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-08
當掃描電鏡（SEM）開機后電子束無法對中時，可按以下步驟系統排查和調整：
MORE INFO → 行業動態 2025-05-07
掃描電鏡（SEM）對樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設計、樣品臺承載能力、探測器類型以及電子束穿透深度等因素。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-07
樣品在進入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質量和避免損傷，通常需要進行適當的前處理。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-06