為什么在掃描電鏡中不同材料會(huì)顯示出不同亮度？

在掃描電鏡中，不同材料顯示出不同亮度，主要是因?yàn)樗鼈兊脑有驍?shù)、電子散射能力和導(dǎo)電性不同，導(dǎo)致探測(cè)器接收到的信號(hào)強(qiáng)弱差異。

如何在掃描電鏡中定位同一位置進(jìn)行多次觀察？

在掃描電鏡（SEM）中定位同一位置進(jìn)行多次觀察，是實(shí)現(xiàn)重復(fù)成像、前后對(duì)比、時(shí)間演化研究的重要操作。

掃描電鏡（SEM）中的工作距離（Working Distance，簡(jiǎn)稱(chēng) WD）是指電子槍發(fā)出的電子束末端（物鏡極柱）到樣品表面的垂直距離。

掃描電鏡（SEM）在成像過(guò)程中對(duì)樣品表面狀態(tài)非常敏感，樣品表面不平整（如高低起伏、傾斜、凹凸不平）會(huì)對(duì)圖像質(zhì)量和分析結(jié)果產(chǎn)生多個(gè)方面的負(fù)面影響：

在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果圖像出現(xiàn)漂移、跳動(dòng)或位置不穩(wěn)定，可能是由于樣品偏移或不穩(wěn)定造成的。

當(dāng)使用掃描電鏡（SEM）觀察非導(dǎo)電樣品（如生物樣本、陶瓷、高分子材料等）時(shí)，樣品帶電可能導(dǎo)致圖像模糊、偏移、亮度不均或漂移。

判斷掃描電子顯微鏡（SEM）成像是否正常，需要從圖像質(zhì)量、設(shè)備狀態(tài)、樣品制備等多個(gè)維度進(jìn)行綜合判斷。

掃描電鏡（SEM）樣品臺(tái)通常可以調(diào)節(jié)角度，這是樣品臺(tái)設(shè)計(jì)中的一個(gè)重要功能，具體包括傾斜（tilt）和旋轉(zhuǎn)（rotate）兩個(gè)方向的調(diào)節(jié)。