掃描電鏡能否直接觀察濕樣品？
普通的掃描電子顯微鏡（SEM）不能直接觀察濕樣品，因為 SEM 需要高真空環境來防止電子束散射，而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發，導致樣品形態變化甚至損壞。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-18
普通的掃描電子顯微鏡（SEM）不能直接觀察濕樣品，因為 SEM 需要高真空環境來防止電子束散射，而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發，導致樣品形態變化甚至損壞。
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在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導電樣品容易產生充電效應，導致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-17
優化掃描電鏡（SEM）的曝光時間需要在信噪比（SNR）、分辨率、樣品損傷和成像時間之間取得平衡。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-17
掃描電鏡（SEM）光束偏移會導致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-14
掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導致成像質量下降。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-14
掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復使用，取決于以下幾個因素：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-13
在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導致圖像質量下降或影響分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-13
掃描電子顯微鏡（SEM）的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測產生的電子信號來構建圖像。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-12