掃描電鏡如何使用低真空模式觀察非導電樣品？

在掃描電鏡 (SEM) 中，使用低真空模式 (Low Vacuum Mode) 觀察非導電樣品的目的是為了避免樣品表面的電荷積累問題，同時無需復雜的導電處理（如噴金或碳涂層）。

掃描電鏡樣品的污染物如何去除？

在掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像過程中，樣品上的污染物會嚴重影響成像質量和分析結果。

在掃描電鏡（SEM）中，電磁透鏡的作用主要是用來聚焦和控制電子束，使其能夠精準地掃描樣品表面，從而獲得高分辨率的圖像和精確的分析結果。

在掃描電鏡（SEM）中，掃描模式是決定如何對樣品表面進行電子束掃描的設置。

選擇掃描電鏡（SEM）的探測器對于獲得高質量圖像至關重要。

在掃描電鏡（SEM）中，邊緣效應（Edge Effect）是指當電子束掃描到樣品邊緣時，由于樣品厚度突然變化或電荷積累，導致邊緣區域產生過亮或過暗的現象，影響圖像質量和定量分析的準確性。

判斷掃描電鏡（SEM）樣品的導電性是否足夠，對于獲得清晰、無偽影的圖像至關重要。

掃描電鏡（SEM）圖像的后期處理和增強可以幫助提高圖像質量，揭示更多細節，或者使圖像更加適合展示和分析。