共探國產(chǎn)電鏡未來┃澤攸科技亮相2023全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會
日期：2023-10-31
10月26日至30日，2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市盛大召開。本屆大會以“顯微鴻鵠志,世界一片天——懷念郭可信先生”為主題，紀(jì)念中國電子顯微學(xué)開拓者郭可信先生誕辰100周年。來自全國各地的高校院所、企事業(yè)單位、儀器技術(shù)企業(yè)等電子顯微學(xué)領(lǐng)域?qū)＜覍W(xué)者2000余人出席了本次盛會。
大會開幕式由大會秘書長、北京大學(xué)教授高寧主持，大會主席、中國科學(xué)院院士張澤，大會承辦單位南方科技大學(xué)副校長、中國科學(xué)院院士賈金鋒，大會組委會主席、電鏡學(xué)會理事長韓曉東分別致辭。
大會設(shè)置了多個分會場，內(nèi)容涵蓋顯微學(xué)理論、技術(shù)和儀器發(fā)展，以及功能材料微結(jié)構(gòu)表征等前沿領(lǐng)域。多家國內(nèi)外高新技術(shù)企業(yè)應(yīng)邀出席會議，其中，澤攸科技攜新研發(fā)的臺式掃描電鏡ZEM20亮相展示，受到與會代表的熱烈關(guān)注。
展會期間，澤攸科技研發(fā)工程師在展位上向參展的專家和學(xué)者介紹了ZEM系列臺式掃描電鏡的創(chuàng)新之處及應(yīng)用場景，獲得廣泛好評。ZEM系列電鏡在分辨率、成像速度、自動化程度等方面都有顯著提升，可廣泛應(yīng)用于材料、生命科學(xué)等領(lǐng)域的表面形貌及組分分析。此外，ZEM系列電鏡還可選擇配置能譜分析儀，實現(xiàn)對樣品元素、結(jié)構(gòu)等信息的快速、準(zhǔn)確檢測。
本次學(xué)術(shù)年會展示了國內(nèi)電子顯微學(xué)領(lǐng)域的潛力，其中國產(chǎn)電鏡及其配件企業(yè)的數(shù)量和規(guī)模不斷壯大，這表明中國電子顯微學(xué)儀器的自主創(chuàng)新能力不斷提升，國產(chǎn)電鏡有望取代進(jìn)口產(chǎn)品，逐步走到行業(yè)前臺。澤攸科技作為國內(nèi)少數(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)科研儀器反向輸出的企業(yè)之一，象征著國產(chǎn)電鏡制造業(yè)的崛起，同時也顯示出中國在電子顯微學(xué)領(lǐng)域的雄心壯志。未來，澤攸科技將繼續(xù)致力于電子顯微學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展，為中國的科研事業(yè)和產(chǎn)業(yè)進(jìn)步貢獻(xiàn)更多力量。
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作者：澤攸科技