聚焦東莞┃澤攸科技邀您共赴2023年全國電子顯微學學術年會
日期：2023-10-19
10月26日-30日，2023年全國電子顯微學學術年會將在東莞市會展國際大酒店召開。澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術領域行業解決方案，誠邀您共赴盛會！
本屆年會學術交流內容包括：球差校正透射電子顯微學及應用、原位顯微學技術（包括力學、物理、化學、生物等）及應用、高分辨掃描電子顯微學、微束分析、掃描探針顯微學（包括STM、AFM等）、低溫電子顯微學和激光共聚焦顯微學等。會議亦包含這些技術在前沿物理科學、化學、地學、生命科學、醫學和信息科學等學科及新能源技術、熱電材料、信息技術、環境科學與技術、先進結構材料等領域中的基礎研究和應用基礎研究成果；會議將展示顯微學相關儀器理論、技術和實驗方法的新進展；會議將促進電鏡及其他顯微學儀器的共享、運行、管理、開放共享、實驗平臺使用、改進與維修的交流等
參會信息
時間：10月26日~30日
地點：東莞市會展國際大酒店
展位：4-16
澤攸科技是一家具有完全自主知識產權的先進科學儀器公司，專注于研發、生產和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等科學儀器，立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導體加工科學儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產品線，在國內外均獲得了高度關注。
ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質量和便攜性，加速電壓可以連續調節，可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺，擁有多項自主創新技術，滿足不同實驗及檢測需求，應用領域廣泛。
PicoFemto系列原位TEM測量系統是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內，將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。
PicoFemto系列原位SEM測量系統是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復雜的測試模塊集成進掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應用領域。
澤攸科技JS系列高精度臺階儀是公司自主研發的國產臺階儀。突破核心技術-大行程超精密平面掃描-70mm，優于20nm/2mm；大帶寬大行程納米微動臺-80um，10kHZ；超微壓力恒定控制，0.5mN-15mN，打破了國外壟斷的局面，是半導體國產化進程中不可或缺的一環。
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作者：澤攸科技