掃描電鏡的樣品尺寸和厚度有哪些限制

掃描電鏡（SEM）對樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設計、樣品臺承載能力、探測器類型以及電子束穿透深度等因素。

樣品在掃描電鏡中需要做哪些前處理？

樣品在進入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質量和避免損傷，通常需要進行適當的前處理。

判斷樣品表面是否被掃描電鏡的電子束燒蝕，通常可從圖像特征、操作變化及后處理觀察中綜合分析。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個方面著手分析：

掃描電鏡（SEM）中的能譜分析（EDS）中出現假峰（artifact peaks）或偽峰（spurious peaks），可能由以下幾類原因引起：

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出現充電效應，導致圖像發亮、偏移、拉伸、失真甚至無法成像。

判斷掃描電鏡（SEM）是否需要重新調焦，可以通過以下幾個方法和信號來判斷：

在掃描電鏡（SEM）中，調節樣品臺傾斜角度的作用主要有以下幾點：