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掃描電鏡（SEM）的掃描范圍是可以放大或縮小的，而且這正是實現“放大倍數”變化的核心原理。

一、什么是掃描范圍？

在 SEM 中，掃描范圍指的是電子束在樣品表面“掃描”的物理面積。

掃描范圍大：顯示的是樣品的大區域，放大倍數低；

掃描范圍小：電子束集中掃描一個小區域，放大倍數高。

二、如何調整掃描范圍？

1. 通過調整放大倍數來控制

放大倍數越高，實際掃描的面積越小；

例如，從 500 倍放大到 5000 倍時，掃描范圍會變成原來的 1/10。

2. 使用軟件中的縮放控制

多數 SEM 軟件提供“Magnification”或“Zoom”調節功能，滑動條或數值輸入；

向上調節放大倍率 = 減小掃描范圍；

向下調節放大倍率 = 擴大掃描范圍。

3. 使用“縮放區域”功能

有些設備允許用戶框選一個區域進行“局部縮放”；

這會把焦點集中到你指定的掃描范圍里。

三、為什么要改變掃描范圍？

縮小掃描范圍（放大）：用于觀察樣品的微觀結構，如晶粒、表面粗糙度、裂紋、納米顆粒等；

擴大掃描范圍（縮小）：用于定位、整體結構觀察、找目標區域。

四、注意事項

放大倍率與分辨率無直接關系

分辨率取決于電子束質量、樣品導電性、工作距離等。

掃描范圍縮小時圖像更容易抖動或模糊

需要更精細的對焦；

控制樣品穩定，避免漂移。

倍率越高，掃描范圍越小，比例尺越短

這對圖像標尺和尺寸測量有重要影響。