掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋（stripes, banding）或顆粒感（grainy texture, noise），可能源于以下幾類問題，分別涉及設(shè)備、樣品、成像參數(shù)和環(huán)境因素：

一、圖像出現(xiàn)條紋的可能原因

1. 電磁干擾

表現(xiàn)：規(guī)則性條紋、周期性波形干擾，可能在水平方向尤其明顯。

原因：周圍有強(qiáng)電磁源（如高壓線、變壓器、無線信號等）。

解決辦法：

檢查接地是否良好。

更換電源插座或使用凈化電源。

遠(yuǎn)離電磁干擾源，必要時加裝屏蔽罩。

2. 掃描系統(tǒng)問題

表現(xiàn)：圖像中出現(xiàn)規(guī)律性橫線或豎線。

原因：

掃描線偏移或未對準(zhǔn)；

探測器接收信號異常或電纜接觸不良。

解決辦法：

重啟儀器或重新加載掃描參數(shù)；

檢查探測器接頭和電纜。

3. 樣品充電效應(yīng)

表現(xiàn)：條紋或明暗帶隨掃描位置變化。

原因：樣品非導(dǎo)體或?qū)щ娡繉硬蛔?，?dǎo)致電子堆積。

解決辦法：

涂覆導(dǎo)電材料（如金、碳）；

使用低加速電壓觀察；

開啟樣品充電補(bǔ)償功能（若設(shè)備支持）。

二、圖像出現(xiàn)顆粒感的可能原因

1. 信噪比低 / 圖像噪聲大

表現(xiàn)：圖像像“沙子”一樣，顆粒感嚴(yán)重。

原因：

探測器接收到的電子信號強(qiáng)度弱；

放大倍率太高但像素分辨率不足；

探測器靈敏度未調(diào)好。

解決辦法：

增加探測器增益或調(diào)整亮度/對比度；

降低放大倍率或提高像素數(shù)；

使用較慢的掃描速度或幀累積（frame integration）功能。

2. 樣品本身粗糙或微結(jié)構(gòu)復(fù)雜

表現(xiàn)：顆粒結(jié)構(gòu)本身來源于樣品表面形貌。

解決辦法：

確認(rèn)是否為真實(shí)形貌；

可結(jié)合其他放大倍數(shù)或樣品角度重復(fù)確認(rèn)。

3. 樣品污染或制備不當(dāng)

表現(xiàn)：圖像上雜亂的亮點(diǎn)或顆粒感隨樣品改變而變化。

原因：

樣品上有污染物（如油、水分、膠殘留）；

冷凍樣品未完全干燥。

解決辦法：

清潔樣品；

優(yōu)化樣品制備流程（如冷凍干燥、等離子清洗）。