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掃描電子顯微鏡（SEM）的成像質量對使用環境高度敏感。以下是常見環境因素對成像的具體影響及應對建議：

1. 機械振動

影響：

振動會導致圖像模糊、拖影，尤其在高放大倍率下較為明顯。可能出現線條抖動、不連續，或者圖像整體“跳動”。

來源：

樓板震動、靠近電梯、空壓機、走廊人流等。

對策：

使用防震平臺或氣浮減震桌。

將SEM安放在獨立承重墻上或專門的抗震基座上。

遠離振源設備，如離心機、電梯、水泵。

2. 電磁干擾

影響：

會引起掃描線條不穩定、圖像出現波紋、條紋或周期性噪聲。

來源：

鄰近高壓電源、變壓器、大型電機、電焊設備或無線發射器。

對策：

使用電磁屏蔽室或屏蔽罩。

增加設備接地質量，避免接地回路干擾。

避免SEM與高功率設備共用電源線路。

3. 溫度變化

影響：

熱膨脹會引起樣品臺漂移、圖像位移，特別在高分辨觀測或長時間掃描中影響顯著。

來源：

空調頻繁啟停、陽光直射、設備散熱不均等。

對策：

保持恒溫（建議波動≤±1°C），理想環境溫度為20–22°C。

避免熱風直接吹向SEM。

開機預熱足夠時間（30分鐘以上），讓系統熱穩定。

4. 濕度與空氣質量

影響：

高濕度可導致電子學元件短路或真空系統冷凝，污染樣品或造成放電；空氣中灰塵、油煙等會沉積在透鏡系統，降低分辨率。

對策：

控制相對濕度在40%–60%。

保持實驗室清潔，避免油煙或揮發性溶劑泄露。

安裝空氣過濾系統或凈化器。

5. 氣流擾動

影響：

空氣流動會帶來溫度波動或微小振動，使高倍率圖像飄移、模糊。

來源：

空調風口、門窗開關、人員活動。

對策：

避免將SEM直接置于風口下。

優化氣流布局，關閉不必要的風源。

保持門窗關閉，減少人員走動。