判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否出現失真或充電效應，主要可以通過觀察圖像特征、了解樣品性質和結合成像參數來判斷。以下是常見判斷方式：

一、如何判斷圖像失真

失真（Distortion） 是圖像幾何形狀偏離實際形貌，常見于以下幾種情況：

掃描方向變形：

快速掃描方向出現拉長、壓縮、傾斜等現象，說明掃描速率與反饋響應不同步。

橫向拉伸多為慢掃描軸伺服遲緩造成。

圖像邊緣模糊或抖動：

電磁干擾、掃描不穩定、樣品運動造成；

電源干擾也會引入周期性條紋。

圖像整體偏移或重復（鬼影）：

掃描系統滯后或線圈遲滯；

或者控制器中斷、同步觸發失效導致圖像有“雙影”。

二、如何判斷圖像充電效應

充電效應（Charging） 通常發生在非導電樣品或樣品涂層不良時：

圖像亮度不均勻或忽明忽暗：

表明電子聚集在局部區域，導致信號電壓漂移。

局部區域異常發白或黑暗：

正常區域電荷排出平衡，而局部充電區域形成高反差。

圖像“漂移”或“扭曲”隨時間發生變化：

通常伴隨著掃描過程中圖像位置緩慢變化；

這是典型的表面電荷積累影響電子束偏轉。

亮區邊緣出現“暈影”或強反射：

說明電子束轟擊后產生了次級電子和背散射電子畸變。

三、如何進一步驗證（診斷方法）

改變加速電壓：如果降低加速電壓后圖像變正常，很可能是充電問題。

導電噴金處理：樣品如果經過金屬鍍層后圖像變穩定，則說明是導電不足導致的充電。

換方向掃描：如果圖像失真形狀隨掃描方向變化，說明是動態滯后或畸變。

連續拍攝多張觀察變化：若圖像漂移隨時間逐漸加重，很可能是表面充電積累。