提高掃描電鏡（SEM）圖像的邊緣清晰度，本質上是提升圖像的分辨率和信噪比，減少拖影、模糊和偽影，讓細節邊緣更銳利。以下是幾個實用的方法，按從設備參數到樣品處理的角度來講：

1. 優化聚焦和光斑尺寸（Spot Size）

調整工作距離（WD）：縮短工作距離通常能提高分辨率，邊緣細節更清晰；

減小光斑尺寸：越小的電子束束斑，成像越銳利；

微調透鏡電流/聚焦：在邊緣區域反復小幅調焦，直到邊緣清晰。

2. 降低電子束加速電壓（如從20?kV降到5–10?kV）

高電壓易產生電子穿透和擴散，導致邊緣發虛；

低電壓減少電子散射深度，更適合表面邊緣成像；

特別對非金屬或涂層樣品有更好邊緣成像效果。

3. 減小掃描速度，提高像素數

使用慢速掃描（長幀時間）積累更多信號，減少圖像噪聲；

提高分辨率（如2048×2048像素），邊緣更細膩；

結合多幀平均或降噪算法處理更佳。

4. 樣品處理要得當

導電鍍層：非導體樣品應噴金或碳鍍層，防止充電模糊邊緣；

樣品固定牢靠：避免震動和漂移影響邊界對焦；

樣品表面應清潔平整，避免污染物干擾邊緣成像。

5. 使用邊緣增強濾波器（軟件處理）

后處理可用邊緣增強濾波或對比度調整提高邊緣銳度；

有些SEM軟件自帶實時銳化或后期圖像處理工具；

或導出圖像用 ImageJ、Photoshop 進行邊緣提取或銳化操作。

6. 檢查電子束穩定性與樣品漂移

若圖像邊緣模糊但中心清晰，可能是束斑不穩或樣品飄動；

保持樣品和平臺穩定，必要時開啟束斑穩定模式（Beam stabilization）或溫度控制。