掃描電鏡中如何調(diào)整焦距？

在掃描電鏡 (SEM) ?中，焦距調(diào)整是確保圖像清晰度和分辨率的關(guān)鍵步驟。

掃描電鏡可以測(cè)量樣品的尺寸和形狀嗎？

掃描電鏡 (SEM) ?可以用來(lái)測(cè)量樣品的尺寸和形狀，但這種測(cè)量通常依賴于電鏡的分辨率、樣品表面的特征以及相關(guān)的軟件工具進(jìn)行精確分析。

在掃描電鏡（SEM）?中，畸變（distortion）是指圖像中的形狀、尺寸或比例的變化，可能導(dǎo)致不準(zhǔn)確的分析或失真的圖像。

在掃描電鏡（SEM）?中，樣品鍍金是常見(jiàn)的樣品制備方法之一，主要用于增強(qiáng)樣品的導(dǎo)電性，并避免由于樣品表面電荷積累（charging）而影響圖像質(zhì)量。

掃描電子顯微鏡（SEM）?的樣品尺寸限制主要受到以下幾個(gè)因素的影響：

在掃描電子顯微鏡?（SEM）中，焦深（Depth of Field，DOF）是指電子顯微鏡能夠清晰成像的樣品表面區(qū)域的深度范圍。

掃描電鏡（SEM）?對(duì)樣品表面粗糙度的敏感度較高，尤其在觀察較小的細(xì)節(jié)和表面特征時(shí)。

掃描電鏡（SEM）?非常適合用于觀察樣品的表面缺陷，尤其是在納米級(jí)別的缺陷上。掃描電鏡通過(guò)電子束與樣品表面相互作用生成圖像，可以清晰地顯示出表面形貌、微小裂紋、氣孔、腐蝕痕跡、加工痕跡等缺陷。