掃描電鏡樣品荷電嚴(yán)重怎么辦？

掃描電鏡樣品荷電（充電）是一個常見但非常棘手的問題，它會導(dǎo)致圖像扭曲、異常亮斑、像散和圖像漂移。

掃描電鏡如何判斷能譜圖中的假峰？

判斷掃描電鏡能譜中的假峰是一項非常重要的技能，它直接影響到元素分析的準(zhǔn)確性。

以下是掃描電鏡幾種核心方法和操作技巧，結(jié)合使用可以找到目標(biāo)：

掃描電鏡圖像模糊是一個常見問題，通常可以通過一系列系統(tǒng)性的調(diào)整來解決。

掃描電鏡中，導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品的處理方法有根本性的區(qū)別，核心原因在于如何應(yīng)對 “電荷積累” 問題。

掃描電鏡的放大倍數(shù)實(shí)現(xiàn)方式與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡有根本性的不同，它并不是通過透鏡的組合來“放大”圖像。

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)整體或局部發(fā)白，通常意味著信號過強(qiáng)、表面帶電、或探測設(shè)置異常。

在掃描電鏡拍攝中，樣品是否需要導(dǎo)電，取決于樣品的材質(zhì)、觀察模式和顯微鏡類型。