掃描電鏡出現真空泄漏怎么辦？
當掃描電鏡 (SEM) 出現真空泄漏時，會導致無法維持所需的真空度，影響成像質量和設備正常運行。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-11
當掃描電鏡 (SEM) 出現真空泄漏時，會導致無法維持所需的真空度，影響成像質量和設備正常運行。
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選擇掃描電鏡 (SEM) 的掃描速度時，需要在圖像質量、分辨率、信噪比和樣品損傷之間進行權衡。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-11
在掃描電鏡 (SEM) 使用過程中，漂移與失焦問題會影響圖像的清晰度與精度。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-10
在掃描電鏡 (SEM) 中減少樣品的輻照損傷是保持樣品結構完整性和獲得高質量圖像的關鍵。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-10
在掃描電鏡 (SEM) 中，調整光闌 (Aperture) 是提升圖像清晰度、對比度和景深的關鍵步驟。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-07
在掃描電鏡 (SEM) 中使用低電壓成像 (Low Voltage Imaging) 是一種有效方法，尤其適合觀察非導電樣品、表面細節以及減少樣品損傷和充電效應的問題。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-07
判斷掃描電鏡 (SEM) 的電子槍 (Electron Gun) 是否需要更換，通常可以通過以下幾個方面進行評估：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-06
在掃描電鏡 (SEM) 中，使用低真空模式 (Low Vacuum Mode) 觀察非導電樣品的目的是為了避免樣品表面的電荷積累問題，同時無需復雜的導電處理（如噴金或碳涂層）。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-06