判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否對焦清晰，可以通過以下幾個方面來進行直觀和技術性的判斷：

1. 邊緣銳利程度

清晰圖像：樣品邊緣輪廓分明，線條清楚，無模糊或拖尾。

未對焦圖像：邊緣模糊、發虛，細節被“糊掉”。

2. 細節結構表現

放大觀察微觀結構時，如果：

表面顆粒、裂紋、孔洞等結構 層次分明、紋理清晰，說明對焦良好；

若呈現為 糊狀、無細節對比，則說明未對焦或景深不足。

3. 圖像對比度和亮暗過渡

正常對焦的圖像，灰度分布合理，明暗過渡自然；

未對焦時，圖像整體偏灰或灰度層次不明顯，看起來“霧蒙蒙”的。

4. 對焦點調整敏感度

在調焦過程中，圖像變化迅速而明顯，說明當前已接近焦點；

若變化緩慢或幾乎無變化，可能焦點遠離目標平面。

5. 使用標準樣品校驗

可使用帶有微結構的標準樣品（如金屬網、刻蝕樣片）判斷焦距是否準確；

對于新手操作員尤為有幫助。

6. 輔助判斷方法

聚焦十字線法：部分 SEM 軟件會在屏幕中心顯示對焦十字線，觀察其區域的清晰度可快速判斷；

線掃描/邊緣函數分析：一些SEM 軟件支持通過邊緣銳度數值判斷是否對焦；

頻域分析（FT）：清晰圖像在頻譜上高頻成分豐富，模糊圖像頻率成分偏低。

7. 多倍率比較

在低倍時大致調焦，再切換到高倍微調焦距；

高倍成像對焦不準時，圖像失焦現象更加明顯。