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如果掃描電鏡（SEM）圖像對比度太低，圖像會顯得灰蒙蒙、細節不清，無法分辨結構差異。你可以從以下幾個方面進行優化：

一、調整顯微鏡參數（優先）

1. 優化加速電壓（kV）

電壓過高：會導致電子穿透樣品，減少表面信息，對比度下降；

電壓過低：信號過弱、噪聲大；

建議：嘗試調整到 3–10 kV 范圍內，根據樣品導電性和厚度靈活調整。

2. 調節工作距離（WD）

工作距離影響圖像分辨率和景深；

適當縮短 WD，有助于提升表面成像清晰度和對比度。

3. 選擇合適的探測器

二次電子探測器（SEI）：擅長顯示表面形貌、邊緣清晰；

背散射電子探測器（BSE）：能展示成分差異，增強材料對比度；

根據觀察目標切換探測器類型。

4. 優化探測器電壓/增益

增加對比度設置；

減少亮度設置，避免圖像過曝；

一般在 SEM 軟件界面中通過滑塊實時調節。

二、樣品準備方面的優化

1. 改善樣品導電性

非導體樣品易因帶電成像發白、對比度差；

建議進行金屬噴鍍（如金、鉑、碳）；

或使用低電壓成像 + 導電膠/導電碳帶輔助接地。

2. 樣品表面清潔

污染、油脂、水汽都會造成圖像灰暗、對比不明顯；

建議使用等離子清洗儀、酒精清洗或真空干燥處理樣品。

三、圖像采集參數優化

1. 增加圖像積分時間

提高信噪比，使邊緣更清晰，圖像更穩定；

適用于非活體樣品，注意采集時間不宜過長以免樣品損傷。

2. 使用較高分辨率模式

高分辨率下圖像細節更加突出，有助于增強視覺對比。