中文
English

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中，亮度和對比度并不只是視覺效果上的調節項，它們實際代表了樣品物理特性的某些方面，主要取決于成像模式（如二次電子、背散射電子等）。以下是詳細解釋：

1. 亮度代表什么？

亮度（Brightness）通常表示圖像中某一區域的電子信號強度。它與樣品表面發射出的電子數量有關，具體含義取決于使用的成像模式：

二次電子成像（SE）：

亮度高 → 表示該區域發射出較多的二次電子，通常出現在表面細節豐富、邊緣突出或傾斜面處；

原因：二次電子容易從表面逃逸，對樣品的形貌和邊緣結構非常敏感。

背散射電子成像（BSE）：

亮度高 → 表示該區域的原子序數較高（高Z元素，如金、鉑、鉛）；

因為高Z材料對入射電子散射能力強，產生更多背散射電子。

2. 對比度代表什么？

對比度（Contrast）是圖像中明暗區域的差異程度，用于突出細節。其物理含義依賴于成像類型：

形貌對比（Topographic Contrast）：

多見于二次電子圖像；

對比度高說明樣品表面有明顯高低差，比如坑、邊緣、臺階等；

成分對比（Compositional Contrast）：

多見于背散射電子圖像；

不同元素區域亮度不同，從而區分出材料的組成差異；

電荷對比（Charging Contrast）：

非導體樣品容易在掃描中積累電荷；

會導致局部亮或暗區域出現不均，甚至出現亮斑、黑斑或圖像漂移。

電勢對比（Potential Contrast）：

用于觀察表面電勢差（如PN結），一般需特殊條件配合。

3. 調節亮度和對比度的目的

雖然圖像中亮度和對比度反映了物理現象，但你仍可通過軟件或儀器面板進行調節，以達到更清晰的觀察效果：

增加對比度 → 更容易分辨邊緣、結構細節或材料分區；

調整亮度 → 避免圖像過曝或過暗，保持細節可視性。

但請注意：過度調節可能掩蓋真實結構或引入視覺誤導。