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掃描電鏡（SEM）圖像過暗或過亮通常與圖像的曝光、增益設置、探測器選擇以及樣品表面特性有關。以下是一些調整方法：

1. 調整電子束曝光時間

過暗：增加曝光時間，使電子束與樣品的相互作用時間更長，從而提高圖像亮度。

過亮：減少曝光時間，以避免過多的電子被樣品吸收，導致圖像過亮或飽和。

2. 調整增益/亮度/對比度設置

過暗：增大增益值（或亮度設置），以提高信號強度。

過亮：減少增益，降低信號強度，避免圖像過曝。

3. 調整探測器靈敏度

過暗：選擇更靈敏的探測器（如 secondary electron detector）或者提高探測器的增益設置。

過亮：調低探測器的增益，或者切換到不同類型的探測器，如 backscattered electron detector (BSE)，它通常可以提供更均衡的亮度。

4. 優化樣品表面

過暗：樣品表面可能過于粗糙或不導電，導致電子散射過多。確保樣品表面涂覆一層導電材料（如金、鉑等），以提高信號的反射。

過亮：樣品表面可能太光滑或存在過度導電材料。嘗試調整樣品涂層厚度。

5. 調整工作距離（WD）

過暗：減小工作距離可以增加信號的強度。

過亮：增加工作距離，減少電子束的散射。

6. 調節加速電壓（HV）

過暗：提高加速電壓可以增加電子束的穿透力，從而提高圖像亮度，尤其是在觀察較深的樣品時。

過亮：降低加速電壓，減少電子束的穿透力。

7. 后處理圖像

在導出圖像之前，使用軟件（如 Igor Pro、ImageJ 等）進行圖像增強、調整亮度、對比度和伽馬值等，以進一步改善圖像質量。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡圖像過暗或過亮的調整方法。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢