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掃描電鏡選擇合適的探針用于不同類(lèi)型的樣品掃描取決于樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)、掃描的目的以及設(shè)備的特性。以下是選擇探針時(shí)需要考慮的關(guān)鍵因素和一些常見(jiàn)的探針類(lèi)型：

1. 樣品的硬度與機(jī)械特性

硬樣品（如金屬、陶瓷等）：硬度較大的樣品通常需要使用耐磨損的探針，以防止探針在掃描過(guò)程中磨損或損壞。

探針類(lèi)型：金剛石涂層探針、碳化硅探針或硬質(zhì)材料制成的探針。

軟樣品（如生物樣品、聚合物等）：軟樣品容易受到探針的機(jī)械損傷，需要使用柔性或鈍化的探針，以減少對(duì)樣品表面的影響。

探針類(lèi)型：鈍化的硅探針或表面鍍有金的探針。

2. 樣品的導(dǎo)電性

導(dǎo)電樣品（如金屬、半導(dǎo)體等）：

對(duì)導(dǎo)電性要求高的樣品，可以使用導(dǎo)電探針，以確保良好的電接觸，同時(shí)獲得高質(zhì)量的電學(xué)信息。

探針類(lèi)型：鉑、鉑/銥合金涂層探針，金探針。

非導(dǎo)電樣品（如絕緣材料、某些有機(jī)物等）：

對(duì)于非導(dǎo)電樣品，可以使用標(biāo)準(zhǔn)的非導(dǎo)電探針，或者在表面上進(jìn)行導(dǎo)電處理（如噴涂金屬薄膜）。

探針類(lèi)型：標(biāo)準(zhǔn)硅探針。

3. 表面形貌與粗糙度

平滑表面：

對(duì)于光滑表面，通常需要使用尖端半徑較小的高分辨率探針，以獲得細(xì)節(jié)豐富的圖像。

探針類(lèi)型：尖端半徑在1-10 nm范圍的高分辨率探針。

粗糙表面：

對(duì)于粗糙或有顯著形貌變化的表面，需要選擇更為堅(jiān)固的探針，以避免探針尖端損壞，同時(shí)確保能夠穩(wěn)定掃描大范圍的表面形貌。

探針類(lèi)型：中等尖端半徑（10-50 nm）的探針，或耐用型探針。

4. 掃描模式

接觸模式掃描：

在接觸模式下，探針與樣品表面保持物理接觸。因此，需要選擇耐磨損的探針，尤其是在長(zhǎng)時(shí)間掃描中。

探針類(lèi)型：耐磨損探針，如金剛石涂層探針。

非接觸模式或輕敲模式掃描：

在這些模式下，探針與樣品表面保持一定距離或輕微接觸。可以使用較為敏感且尖端半徑較小的探針，以提高掃描分辨率。

探針類(lèi)型：高靈敏度的硅探針或非接觸探針。

5. 樣品的化學(xué)活性與環(huán)境條件

化學(xué)活性樣品（如化學(xué)合成物、生物樣品等）：

化學(xué)活性較高的樣品容易與探針發(fā)生反應(yīng)，因此可以選擇化學(xué)惰性的探針。

探針類(lèi)型：金或鉑涂層探針，因?yàn)檫@些材料具有良好的化學(xué)穩(wěn)定性。

液體環(huán)境下的掃描：

在液體中進(jìn)行掃描時(shí)，需要選擇專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的液相探針，它們通常具有防水涂層，能夠穩(wěn)定操作。

探針類(lèi)型：液相探針或涂層探針，確保耐受液體環(huán)境。

6. 掃描目的

力學(xué)性質(zhì)分析（如AFM中的力譜）：如果主要目的是測(cè)量樣品的力學(xué)性質(zhì)，需要選擇具有特定彈簧常數(shù)的探針，以適應(yīng)測(cè)量需求。

探針類(lèi)型：彈簧常數(shù)合適的探針，通常根據(jù)樣品的硬度選擇。

電學(xué)性質(zhì)測(cè)量（如導(dǎo)電AFM）：測(cè)量樣品的電學(xué)性質(zhì)時(shí)，導(dǎo)電探針是必須的。

探針類(lèi)型：導(dǎo)電涂層探針，如鉑、銥、金涂層探針。

7. 探針的尖端半徑

高分辨率成像：

為了獲取高分辨率的圖像，選擇尖端半徑較小的探針（<10 nm），能夠提高分辨率，捕捉更細(xì)微的表面結(jié)構(gòu)。

探針類(lèi)型：超尖端探針（Super Sharp Probes，SSP）。

常規(guī)成像：

對(duì)于一般表面成像，可以選擇尖端半徑較大的探針（10-50 nm），適合大多數(shù)樣品的掃描。

探針類(lèi)型：標(biāo)準(zhǔn)硅探針。

8. 商業(yè)探針品牌與選擇

常見(jiàn)的探針供應(yīng)商如Bruker、Olympus、Nanoworld等提供多種類(lèi)型的探針，選擇時(shí)可以根據(jù)廠商的探針規(guī)格進(jìn)行定制。

總結(jié)

選擇探針時(shí)，需要綜合考慮以下幾個(gè)關(guān)鍵因素：

樣品的機(jī)械和電學(xué)特性：硬度、導(dǎo)電性、化學(xué)活性。

掃描模式：接觸模式、非接觸模式或液相環(huán)境下的操作。

分辨率要求：根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康倪x擇適當(dāng)?shù)奶结樇舛税霃健?/span>

實(shí)驗(yàn)環(huán)境：如液體或氣體環(huán)境下的掃描。

以上就是澤攸科技小編分享的如何選擇合適的探針用于不同類(lèi)型的樣品掃描。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢