掃描電子顯微鏡（SEM）用于動態過程觀察，可以捕捉樣品在特定條件下的實時變化。要進行動態過程觀察，需要特定的設置和方法。以下是詳細步驟和注意事項：

1. 準備工作

確定實驗目的

確定要觀察的動態過程（如材料變形、化學反應、溫度變化等）。

選擇合適的樣品和實驗條件。

樣品制備

樣品尺寸：確保樣品尺寸適合SEM樣品臺。

樣品固定：使用導電膠或導電膠帶將樣品固定在樣品臺上，確保穩定性。

涂覆導電層：如果樣品不導電，可以涂覆一層導電材料（如金、碳）以減少充電效應。

2. SEM設置

選擇適當的SEM模式

高真空模式：適用于大多數樣品，但可能會對一些敏感樣品造成損害。

低真空或環境模式：適用于濕潤或非導電樣品，減少樣品損傷和充電效應。

設置加速電壓和束流電流

加速電壓：選擇適當的加速電壓，通常在1-30 kV之間，根據樣品特性和觀察深度選擇。

束流電流：調節束流電流以獲得清晰的圖像，同時避免樣品損傷。

樣品臺控制

使用帶有溫控、傾斜或旋轉功能的樣品臺，可以在不同環境條件下觀察樣品動態變化。

3. 動態過程觀察

加熱樣品

加熱樣品臺：使用具有加熱功能的樣品臺，可以實時觀察樣品在加熱過程中的變化。

控溫范圍：根據實驗需求設置合適的溫度范圍。

氣體環境控制

氣體流動系統：在SEM腔體內引入特定氣體環境（如氧氣、氮氣），觀察樣品在不同氣氛下的反應。

壓力控制：調節SEM腔體內的壓力，適應不同實驗需求。

原位機械測試

納米壓痕儀：在SEM內進行納米壓痕測試，觀察材料的變形和斷裂過程。

拉伸臺：使用帶有拉伸功能的樣品臺，觀察材料在拉伸過程中的動態變化。

4. 圖像和數據采集

實時圖像采集

使用高速攝像頭或視頻記錄功能，實時捕捉樣品變化過程。

調節圖像采集速度和分辨率，確保圖像質量和數據連貫性。

數據處理和分析

使用圖像處理軟件分析動態過程中的關鍵幀，提取有用信息。

記錄實驗條件和參數，以便后續分析和重復實驗。

示例操作步驟

示例1：觀察樣品在加熱過程中的變化

樣品制備和安裝：

準備好樣品，并用導電膠固定在具有加熱功能的樣品臺上。

SEM設置：

選擇高真空模式，加速電壓設置為10 kV，束流電流適中。

將樣品臺插入SEM腔體，并連接加熱控制系統。

加熱樣品：

設置初始溫度（如室溫），開始觀察樣品。

緩慢增加溫度，每隔一定時間（如每10℃）拍攝一張圖像或進行視頻記錄。

圖像和數據采集：

實時記錄樣品在不同溫度下的變化。

分析圖像，提取關鍵變化點（如相變、形貌變化等）。

示例2：觀察樣品在特定氣體環境下的反應

樣品制備和安裝：

準備好樣品，并用導電膠固定在樣品臺上。

SEM設置：

選擇低真空模式，加速電壓設置為15 kV，束流電流適中。

將樣品臺插入SEM腔體，并連接氣體流動系統。

氣體環境控制：

調節SEM腔體內的氣體環境，通入所需氣體（如氧氣、氮氣），設定合適的壓力。

開始觀察樣品，記錄樣品在不同氣體環境下的變化。

圖像和數據采集：

實時記錄樣品在不同氣體環境下的反應過程。

分析圖像，提取樣品反應的關鍵點（如表面氧化、形貌變化等）。

注意事項

樣品穩定性：確保樣品在動態過程觀察中保持穩定，避免因樣品移動影響觀測結果。

安全操作：在操作SEM和處理氣體時，遵循安全規程，防止發生意外。

數據備份：定期備份圖像和數據，防止數據丟失。

以上就是澤攸科技小編分享的如何進行掃描電鏡的動態過程觀察的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢