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臺式掃描電鏡（SEM）和傳統電子顯微鏡（TEM）在工作原理、應用和圖像獲取方面有一些不同之處：

工作原理：

SEM：SEM使用電子束掃描樣品表面，然后檢測從樣品表面反射、散射或者發射出來的信號，如二次電子、背散射電子、X射線等，來獲取圖像。

TEM：TEM通過透射電子束穿透樣品，然后檢測透射電子的強度和位置信息，從而獲得樣品的高分辨率內部結構圖像。

應用范圍：

SEM：SEM主要用于表面形貌和表面結構的研究，可用于金屬、陶瓷、生物材料、半導體等樣品的觀察和分析。

TEM：TEM主要用于觀察材料的內部結構和晶體學特征，對納米結構和原子級別的材料研究尤為重要。

圖像獲取：

SEM：SEM圖像是樣品表面的三維形貌圖像，具有高深度和高分辨率，能夠顯示樣品的表面形態和微觀結構。

TEM：TEM圖像是樣品的二維投影圖像，通常具有更高的分辨率，能夠顯示材料的晶體結構、晶面、原子排列等細節。

樣品準備：

SEM：SEM對樣品的準備要求相對較低，通常不需要太復雜的樣品制備過程，樣品可以直接進行觀察。

TEM：TEM對樣品的制備要求較高，通常需要將樣品制備成非常薄的切片，以確保電子束能夠透射樣品并獲得清晰的圖像。

分辨率：

SEM：SEM的分辨率通常在納米級別，能夠觀察到樣品表面的微觀結構和細節。

TEM：TEM的分辨率通常在埃級別（0.1納米），能夠觀察到樣品內部的原子級別的細節。

以上就是澤攸科技小編分享的臺式掃描電鏡與傳統電子顯微鏡有何不同。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢