中文
English

在掃描電子顯微鏡中，電子束照射對樣本可能造成多種損傷，特別是在高能量電子束下。以下是一些可能的樣本損傷：

表面電荷積累： 高能量電子束照射樣本表面時，可能會導(dǎo)致電子從樣本表面被排斥出去，造成表面電荷積累。這些表面電荷可能會影響樣本表面形態(tài)，導(dǎo)致圖像失真。

樣本脫水和收縮： 電子束照射會引起樣本內(nèi)部水分的蒸發(fā)和去除，導(dǎo)致樣本脫水和收縮。這可能會改變樣本的形狀和尺寸，導(dǎo)致失真。

電子束傷害： 高能量電子束照射可能會對樣本結(jié)構(gòu)造成直接傷害，特別是對于柔軟和有機(jī)樣本。電子束照射會使樣本中的分子和原子發(fā)生斷裂，導(dǎo)致樣本結(jié)構(gòu)的破壞。

電子輻照損傷： 高能量電子束照射樣本時，電子輻射可能會對樣本中的分子和原子產(chǎn)生一系列的物理和化學(xué)效應(yīng)，導(dǎo)致樣本的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)發(fā)生改變。

熱效應(yīng)： 電子束照射樣本時，會引起樣本局部區(qū)域的升溫。高溫可能會導(dǎo)致樣本的熱膨脹和變形。

光化學(xué)反應(yīng)： 高能量電子束可以激發(fā)樣本中的化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致樣本的化學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。

氣體解吸： 在SEM的真空環(huán)境下，電子束照射樣本可能會引起樣本內(nèi)氣體的解吸，導(dǎo)致氣泡形成，影響圖像質(zhì)量。

因此，在使用SEM觀察樣本時，需要仔細(xì)選擇合適的電子束參數(shù)和采用適當(dāng)?shù)臉颖咎幚矸椒ǎ詼p少電子束照射對樣本的損傷。對于特別脆弱或敏感的樣本，可能需要采用較低的電子束能量和較短的曝光時間來避免損傷。此外，可以通過冷凍等技術(shù)來保護(hù)某些生物樣本，并在觀察前進(jìn)行導(dǎo)電處理，以減少樣本損傷。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的電子束照射對樣本有哪些可能的損傷。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢