掃描電鏡制樣冷臺法操作步驟
日期：2023-04-25
掃描電鏡（SEM）制樣的冷臺法是一種常用于金屬和導電樣品的制樣方法，通常涉及使用液氮或液氦冷卻樣品，以減少電子束輻照引起的熱損傷。以下是一般的掃描電鏡制樣冷臺法的步驟：
準備樣品：選擇合適的金屬或導電樣品，并進行必要的前處理，如清洗、去污等，以確保樣品表面干凈。
固定樣品：將樣品固定在SEM樣品支架上，可以使用導電膠水或導電膠帶等固定方法，確保樣品與樣品支架之間的良好接觸。
冷卻樣品：將樣品支架放置在液氮或液氦冷卻的樣品冷臺上，以降低樣品溫度，通常可以降低到-150°C以下。
制備樣品表面：在樣品表面形成一個平坦、光滑的表面，通常可以通過離子束拋光（Ion Beam Polishing，IBP）或其他類似的方法進行。這一步驟有助于減少SEM圖像中的表面充電和偽影，并提高圖像的質量。
導電涂覆：如果樣品表面不足夠導電，可以在樣品表面涂覆一層導電薄膜，如金屬蒸發、濺射、噴涂等方法，以提高SEM圖像的對比度和清晰度。
移除冷臺：在制備完樣品后，可以將樣品支架從冷臺上取下，但需要注意避免樣品迅速回溫，以避免可能引起的熱損傷。
轉移到SEM：將制備好的樣品支架安裝到SEM中，并進行合適的參數設置，如加速電壓、探針電流、檢測器設置等。
SEM觀察：使用SEM對樣品進行觀察和圖像獲取。由于樣品在冷臺法制樣過程中處于低溫狀態，可以減少電子束輻照引起的熱效應，從而獲得更清晰、高對比度的SEM圖像。
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作者：澤攸科技
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