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掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，可以用于對固體、液體等樣品進行觀察和分析。下面是SEM的使用方法：

樣品制備：對于固體樣品，通常需要將其表面處理，例如去除表面污染、涂覆導電膜等。對于液體樣品，需要將其固化或冷凍處理，并放置在導電性好的載體上。

裝載樣品：將樣品裝載到SEM的樣品臺上，并使用夾具或粘貼劑固定樣品。

調節SEM參數：根據樣品特性，調節SEM的加速電壓、電子束聚焦、信號檢測參數等。

開始觀察：使用SEM的操縱臺，將電子束掃描到樣品表面，并觀察樣品的顯微圖像。可以使用不同的檢測模式，例如反射電子顯微鏡（Backscattered Electron，BSE）和二次電子顯微鏡（Secondary Electron，SE）等。

分析樣品：通過SEM觀察和分析樣品的形貌、結構和成分等信息。可以使用不同的分析技術，例如能譜分析（Energy-dispersive X-ray spectroscopy，EDS）和電子背散射衍射（Electron Backscatter Diffraction，EBSD）等。

保存數據：將觀察和分析得到的數據保存到計算機或其他儲存介質中，并進行數據處理和分析。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

注意事項：

SEM使用過程中需要保持樣品和SEM的干燥和真空環境，以避免樣品受潮或SEM受污染。

SEM操作需要進行培訓和授權，遵守SEM使用安全規范。

在操作SEM過程中，需要避免對SEM設備和樣品造成損壞。

以上就是澤攸科技小編對掃描電鏡的使用方法及注意事項的介紹。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢