掃描電鏡的制樣過程
日期：2023-03-09
掃描電鏡（SEM）制樣是指將待觀察的樣品制備成適合SEM觀察的形態。SEM制樣的目的是為了獲得清晰、準確的樣品形貌、表面形態和微觀結構信息。以下是SEM制樣的過程：
樣品收集：選擇合適的樣品，根據需要進行必要的處理，如切割、拋光、清洗等。
固定樣品：樣品需要被固定在透明的導電底片上，一般使用碳粉、金屬薄膜或者特殊的導電膠水等。
鍍金屬：將待觀察的樣品表面涂覆上一層薄薄的金屬，如金、銀、鉑等，以增加導電性。
制備薄層：使用切片機或離心機制備一層薄薄的樣品表面，厚度一般在幾納米到幾十微米之間。
貼附導電膠帶：將樣品和底片用導電膠帶固定在支架上，以便于放入SEM觀察室中進行觀察。
以上是SEM制樣的一般步驟，具體步驟可能會因不同的樣品類型和要求而略有不同。
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作者：澤攸科技
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