掃描電鏡可以檢測(cè)到哪些信號(hào)？
日期：2024-07-11
掃描電鏡可以檢測(cè)到以下幾種主要信號(hào)：
二次電子：用于成像，能夠提供樣品表面的形貌信息。
背散射電子：用于成像，能夠提供樣品的成分對(duì)比信息。
特征X射線：用于成分分析，通過(guò)能譜儀（EDS）檢測(cè)可以確定樣品中的元素組成。
俄歇電子：用于表面成分分析，適用于非常淺的表面層分析。
陰極發(fā)光：用于分析樣品的光學(xué)性質(zhì)，通常用于半導(dǎo)體和礦物分析。
以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡信號(hào)檢測(cè)的介紹。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：樣品桿如何實(shí)現(xiàn)多軸定位？
下一篇：掃描電鏡的工作距離是什么？