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掃描電鏡（SEM）可以用于測量樣品的尺寸、形狀和表面形貌等參數。以下是一些常見的方法和技術：

圖像測量：使用SEM獲取樣品表面的圖像，并使用圖像處理軟件進行測量。可以使用標尺或已知尺寸的參考物體作為比例尺，然后在圖像中測量感興趣的尺寸，如長度、寬度、直徑等。這種方法適用于二維圖像。

線掃描和輪廓測量：通過在樣品表面上繪制線掃描或輪廓，然后使用SEM觀察并測量線的長度、形狀等參數。這可以用于測量邊緣的形狀、凹凸等。

表面粗糙度測量：使用SEM觀察樣品表面的微觀特征，并使用專業的表面分析軟件對表面粗糙度進行定量測量。

斷面觀察和測量：通過對樣品進行橫截面切割，然后使用SEM觀察并測量斷面的形狀、厚度等參數。這適用于測量多層樣品的層厚、納米線的直徑等。

三維重建：通過獲取多個不同角度或焦平面的SEM圖像，并使用三維重建軟件生成樣品的三維模型。這可以用于測量樣品的體積、表面形貌、孔隙度等參數。

高分辨率成像和放大：使用SEM的高分辨率成像功能觀察樣品表面的微觀結構和特征，并使用放大功能進行細節的放大觀察和測量。

在進行測量前，確保SEM儀器校準良好，并了解SEM系統的參數設置和圖像處理軟件的使用方法。此外，樣品的預處理、適當的取樣和樣品固定也對測量結果的準確性和可靠性至關重要。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

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