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掃描電鏡（SEM）和光學掃描電鏡（OSEM）是兩種常用于材料科學、生物科學等領域的顯微鏡，它們有以下幾點區別：

原理：SEM利用電子束和樣品之間的相互作用，如樣品表面與電子束之間的反射、散射和二次電子發射等，來獲取圖像信息。而OSEM則是在SEM的基礎上，通過在SEM中加入透射光學系統，使得可以同時獲得透射光學和掃描電鏡圖像。

分辨率：SEM通常具有比光學顯微鏡更高的分辨率，可以觀察到更小尺寸的細節。SEM的分辨率通常在納米級別，而光學顯微鏡的分辨率通常在微米級別。

可觀察的樣品類型：SEM適用于觀察各種類型的樣品，包括無機材料、有機材料、生物樣品等，而OSEM則主要用于生物樣品的觀察，如細胞、組織等。

采集的信號類型：SEM主要采集來自樣品表面的二次電子、反射電子、散射電子等信號，從而獲得樣品表面的形貌和組成信息。而OSEM除了可以獲得類似SEM的圖像信息外，還可以通過透射光學系統獲取樣品內部的透射光學圖像。

準備樣品的要求：由于SEM和OSEM都需要在真空環境下工作，因此在準備樣品時需要注意樣品的導電性和真空兼容性。對于SEM，樣品通常需要進行金屬涂覆或者處理成導電形式；而對于OSEM，樣品通常需要較薄的截面，并且需要通過特定的樣品制備方法來保持樣品的透射性。

價格和復雜性：由于OSEM需要加入透射光學系統，因此相對于傳統的SEM而言，價格較高且復雜性較大。

總的來說，SEM和OSEM在原理、分辨率、樣品類型、信號類型、樣品準備等方面存在一定的區別，適用于不同的應用需求。選擇合適的顯微鏡類型應該根據具體的研究對象和研究目的來進行判斷和選擇。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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