掃描電鏡的測量結果受哪些因素影響
日期：2023-02-21
掃描電鏡具有非常高的分辨率和放大倍數，可提供非常詳細的表面形貌信息，已廣泛應用于材料科學、生物醫學、納米科技等諸多領域。
掃描電鏡測量結果可能受到SEM本身分辨率和測量設備的誤差、樣品制備和處理的影響、樣品表面電荷和形貌等因素的影響。此外，掃描電鏡測量需要對樣品進行處理和準備，這可能會導致樣品結構和形態的變化，進而影響測量結果的準確性。
所以在使用掃描電鏡進行測量時，需要注意樣品制備和處理的質量，選擇合適的掃描電鏡參數，進行多次測量和比對結果等措施，以提高測量的準確性和可靠性。
以上就是澤攸科技小編為您介紹的掃描電鏡的測量結果受哪些因素影響。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：掃描電鏡對樣品的要求
下一篇：掃描電鏡探測信號種類