掃描電鏡的BSE能做成分分析么

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強(qiáng)度與樣品中原子序數(shù)的平均值有關(guān)。

掃描電鏡樣品不進(jìn)行噴鍍會怎樣

在掃描電鏡（SEM）中，樣品如果沒有進(jìn)行噴鍍或其他導(dǎo)電處理，可能會出現(xiàn)以下問題：

提高掃描電子顯微鏡（SEM）圖像質(zhì)量可以通過多種方法和優(yōu)化操作來實現(xiàn)。

掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數(shù)，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質(zhì)量。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，調(diào)節(jié)焦距是獲取清晰圖像的關(guān)鍵步驟。焦距調(diào)節(jié)主要是通過控制工作距離（Working Distance, WD）和物鏡焦距（Objective Focus）來實現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術(shù)，能夠提供多種成分分析功能。

六一國際兒童節(jié)即將來臨，澤攸科技在這個節(jié)日前夕，開展了一場別開生面的公益科普活動。

5月30日，西南交通大學(xué)子弟小學(xué)科創(chuàng)節(jié)暨第二屆橋梁模型比賽，在洋溢著歡樂氣息的校園里拉開序幕，西南交通大學(xué)子弟小學(xué)里的孩子們興高采烈地展示著自己的創(chuàng)意作品。