掃描電鏡樣品成像時被燒焦了怎么辦？

掃描電鏡（SEM）樣品成像過程中被“燒焦”，一般指樣品在電子束照射下發生局部碳化、變色、融化或形貌破壞，這是一種不可逆的損傷現象，尤其在非導電或有機樣品中較常見。

掃描電鏡樣品成像時邊緣特別亮的原因

在掃描電鏡（SEM）成像時，如果樣品邊緣特別亮，這是一個非常常見的現象，通常由以下幾個主要原因造成：

在掃描電鏡（SEM）拍圖時，標注比例尺（scale bar）是非常重要的一步，可以讓觀察者明確圖像所代表的實際尺寸。

二維材料是指具有原子級厚度（通常僅單層或幾層原子）且在兩個維度（平面方向）上延展，第三個維度（厚度方向）被限制在納米尺度的新型材料。

在掃描電鏡（SEM）圖像中看到的“亮”和“暗”區域，代表的是電子信號強度的差異，而這種差異取決于多種因素，包括成像模式、材料性質、表面形貌和探測器方向。

在掃描電鏡（SEM）拍照時，是可以保存原圖像比例的，但是否真正保留了原始比例（即像素與實際尺寸的對應關系），取決于以下幾個因素：

在掃描電鏡（SEM）中，為了對比同一區域在不同放大倍數下的圖像細節差異，可以使用圖像處理軟件實現“多重圖層疊加”對比。

在掃描電鏡（SEM）中進行金屬噴鍍時，噴鍍層的厚度確實會影響圖像細節的呈現，尤其是高分辨率成像和觀察微小結構時。