澤攸案例┃ZEM18在半導體行業中的應用
日期：2023-07-19
掃描電鏡是一種廣泛應用于材料科學、半導體工藝等領域的工具，它可以通過探測樣品表面激發出來的電子信號，對物質微觀形貌進行表征。在半導體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應用于器件結構的實時檢測和剖面分析方面，為生產和研發提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。
ZEM18臺式掃描電鏡
澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結構分析等功能，適用于半導體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現器件結構的實時檢測和剖面分析，提高半導體器件的制造質量和性能穩定性。同時我們也可以為客戶提供完整的解決方案，包括樣品制備、測試分析和數據分析等環節，為客戶提供更加服務和支持。
本期內容，就讓我們一起來欣賞ZEM18鏡頭下的半導體世界
液晶顯示器LCD增亮膜檢測
電子元器件焊點檢測
晶圓雜質檢測
半導體元器件檢測
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作者：澤攸科技