中熵合金中的位錯-孿晶相互作用

位錯-孿晶相互作用在調節(jié)材料塑性變形中起著重要作用，如提高材料的加工硬化速率。

ZEM20臺式掃描電鏡在硅片與芯片質量檢測中的應用

隨著我國半導體產業(yè)的高速發(fā)展，對硅片與芯片微細結構的表征與質量控制提出了更高要求。

隨著電子信息產業(yè)的快速發(fā)展，PCB印制板作為電子產品的重要組成部分，其質量好壞直接影響電子設備的性能和可靠性。

硅具有高比容量、低成本和自然儲量豐富等優(yōu)勢，然而其本征缺陷卻限制了其在電池技術中的進一步應用。

我國是一個制造業(yè)大國，數(shù)控機床的產量和保有量居全球前列。在精密加工過程中，刀具的性能直接關系到加工質量。

隨著科技的進步和教育水平的提高，電子顯微技術在科研和教學領域的應用日益廣泛。

當今工業(yè)領域對于產品的質量和安全性的要求越來越高，因此需要高效、準確的檢測技術來保障產品的品質。

上一期內容我們介紹了ZEM18電鏡在半導體領域的應用：《澤攸案例┃ZEM18在半導體行業(yè)中的應用》，除了半導體領域，ZEM18掃描電鏡在建筑、冶金材料和新能源領域上也有廣泛的應用。