掃描電鏡中的樣品邊緣效應(yīng)，是指在樣品邊緣或尖角附近出現(xiàn)亮度增強(qiáng)、對比異常或信號(hào)畸變的現(xiàn)象。其形成主要源于局部電場、束流分布和表面幾何結(jié)構(gòu)的共同影響。

掃描電鏡樣品邊緣效應(yīng)的形成原因

電子束在尖角處更易散射與逃逸

邊緣區(qū)域曲率小，表面傾角大，二次電子更容易從邊緣逸出，因此在圖像上表現(xiàn)為明顯增亮。

電場集中導(dǎo)致二次電子產(chǎn)額升高

邊緣位置會(huì)形成局部電場增強(qiáng)，使得電子束更容易激發(fā)高能二次電子，造成過亮或泛白。

束流撞擊角度改變

在邊緣，電子束入射角增大，更有利于產(chǎn)生二次電子和背散射電子，從而提高信號(hào)強(qiáng)度。

樣品幾何導(dǎo)致的信號(hào)收集偏差

邊緣區(qū)域的信號(hào)更容易直接被探測器接收，導(dǎo)致探測效率局部升高。

絕緣樣品邊緣更容易積累電荷

邊緣處受電荷集中影響更強(qiáng)，可能產(chǎn)生局部過亮、條紋或噪點(diǎn)，但本質(zhì)上也是邊緣效應(yīng)的表現(xiàn)之一。