掃描電鏡（SEM）圖像在放大后出現(xiàn)模糊，是較常見的問題，影響微納米結構觀察的清晰度與分辨率。出現(xiàn)模糊的原因可能來自多個方面，以下是常見原因及對策：

常見原因與應對策略

1. 沒有準確對焦

表現(xiàn)：圖像整體模糊，邊緣無清晰輪廓。

解決方法：

重新使用焦距（focus）和工作距離（WD）進行精細調焦；

建議在低倍率對焦，然后逐步放大并繼續(xù)微調；

可啟用“行掃描”或“慢掃描”模式提高對焦準確性。

2. 樣品未固定牢靠或漂移

表現(xiàn)：圖像邊緣模糊拖影，焦點對不上。

解決方法：

檢查樣品是否牢固貼在樣品臺上；

使用導電膠或碳膠加固樣品；

避免在高倍率下使用移動不穩(wěn)定的樣品區(qū)域。

3. 電子束未聚焦良好（電子光學問題）

表現(xiàn)：圖像中央或整體模糊，不隨調焦變化改善。

解決方法：

調整束斑大小（spot size）；

如果設備支持，進行“聚焦校正”或“束斑調整”；

檢查電子槍是否需要更換或維護。

4. 加速電壓選擇不當

表現(xiàn)：圖像發(fā)虛、對比度差，尤其在非導體樣品上更明顯。

解決方法：

對導體樣品可適當提高加速電壓（如10–20?kV）；

對非導體樣品建議使用低電壓成像（如1–5?kV）以減少充電效應；

多試不同電壓，找出圖像清晰時的工作條件。

5. 樣品表面帶電或不導電

表現(xiàn)：局部模糊、拖尾、閃爍等偽影。

解決方法：

為樣品鍍金、碳或鉑等導電膜；

確保樣品臺與樣品之間導電良好；

使用低真空模式（如LowVac或VP模式）抑制充電。

6. 過度放大超過儀器分辨極限

表現(xiàn)：放大后圖像看似模糊，其實是設備分辨率限制。

解決方法：

避免“數(shù)字放大”（Digital Zoom），應使用光學/系統(tǒng)原生放大；

檢查SEM說明書中分辨率極限，不建議超過其倍率；

若需更高分辨率，應使用場發(fā)射SEM（FE-SEM）。

7. 像差未校正（Stigmation）

表現(xiàn)：圖像出現(xiàn)拉伸、橢圓模糊，特別在高倍率下更嚴重。

解決方法：

使用SEM控制界面中的“Stigmator”功能進行圖像矯正；

通常需在每次對焦或切換放大倍率后重新調整。

建議的調試流程（順序）

降低倍率，初步對焦

逐步放大，每一級放大后重新對焦與像差校正

調整加速電壓與束斑大小

檢查樣品是否穩(wěn)定并良好導電

使用慢掃描模式獲取高清圖像

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡圖像放大后出現(xiàn)模糊怎么辦。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢