掃描電鏡樣品需要烘干處理嗎？
日期：2025-03-24
是否需要烘干處理取決于樣品的材質(zhì)、含水量以及掃描電鏡（SEM）模式。一般而言，大多數(shù)樣品在高真空模式下都需要徹底烘干，以避免水分蒸發(fā)導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)損壞或真空系統(tǒng)污染。但在低真空或環(huán)境掃描電鏡（ESEM）模式下，濕樣品可以直接觀察。
1. 須烘干的樣品
如果樣品含有較多水分，在高真空 SEM 下成像前須徹底干燥，否則可能導(dǎo)致：
氣泡或裂紋（水分蒸發(fā)會(huì)破壞樣品結(jié)構(gòu)）
樣品漂移或變形（失去水分支撐）
真空系統(tǒng)污染（水蒸氣會(huì)影響真空度）
常見需要烘干的樣品：
生物樣品（組織、細(xì)胞、植物）
濕潤(rùn)粉末或凝膠
某些高分子材料
烘干方法：
自然風(fēng)干（適用于較硬的樣品）
冷凍干燥（凍干）（適用于細(xì)胞、組織，保持形貌）
臨界點(diǎn)干燥（CPD）（適用于微納結(jié)構(gòu)，如氣凝膠）
真空干燥（適用于粉末、陶瓷等）
2. 可直接成像的樣品（無需烘干）
某些 SEM 設(shè)備具備低真空或 ESEM 模式，可直接觀察濕樣品：
水合生物樣品
濕潤(rùn)的地質(zhì)或礦物材料
某些聚合物或乳液
這種模式利用低氣壓環(huán)境來平衡水分蒸發(fā)，避免樣品因脫水而破壞結(jié)構(gòu)。
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作者：澤攸科技
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