在掃描電子顯微鏡（SEM）中，偽影（artifacts）是圖像中由于非樣品原因而出現的假象或失真，這些偽影可能干擾對樣品的正確分析和解釋。處理和減少SEM圖像中的偽影需要對偽影的來源進行識別，并采取相應的措施來避免或修正。以下是常見偽影的類型以及相應的處理方法：

1. 充電效應偽影

特征：充電效應通常出現在非導電樣品中，表現為圖像中的亮點、條紋或整體圖像的漂移。

處理方法：涂覆導電層：對非導電樣品表面涂覆一層薄的導電材料（如金、碳），以減少充電效應。

降低加速電壓：使用低加速電壓（如1-5 kV）可以減少樣品表面電荷積累。

使用環境掃描電鏡（ESEM）：ESEM可以通過控制樣品室的氣壓和濕度，利用氣體分子中和電荷，從而減少充電效應。

調整束流強度：降低電子束的束流強度或縮短掃描時間，以減少電荷積累。

2. 磁場偽影

特征：由于樣品或儀器周圍存在磁場，圖像中可能出現失真、彎曲或拉伸的現象。

處理方法：遠離磁場源：將SEM儀器和樣品遠離任何可能產生磁場的設備，如電動機、變壓器等。

使用去磁線圈：如果樣品具有弱磁性，可以使用去磁線圈對樣品進行處理。

重新對準SEM：在有磁場干擾時，定期重新對準SEM的電子光學系統。

3. 振動偽影

特征：振動偽影表現為圖像的模糊、重復條紋或拖影，通常由環境振動引起。

處理方法：隔振平臺：在SEM設備下方安裝隔振平臺，以減少環境振動的影響。

降低掃描速度：降低掃描速度可以減少振動偽影的影響，但可能需要增加掃描次數以提高信噪比。

檢查設備安裝：確保SEM安裝在穩定的地基上，遠離可能產生振動的設備和活動。

4. 樣品損傷偽影

特征：電子束在樣品表面引起損傷，導致圖像中出現不自然的亮斑、變色或結構損壞。

處理方法：降低束流強度：減少電子束的束流強度，以減小對樣品的損傷。

降低加速電壓：使用低加速電壓，減少電子束對樣品的入射能量，從而降低損傷。

使用冷凍樣品臺：對于熱敏感樣品，可以使用冷凍樣品臺來減緩樣品在電子束下的損傷。

5. 電子束輻照偽影

特征：由于電子束的長期照射，樣品可能發生累積電荷或局部熱效應，導致圖像中出現形變或非均勻對比。

處理方法：束流分布均勻化：優化掃描路徑和束流分布，使得電子束在樣品表面均勻分布，避免局部過熱或過度輻照。

使用低電流掃描：通過降低束流電流或縮短曝光時間，減少電子束對樣品的輻照效應。

6. 真空偽影

特征：真空系統的泄漏或波動可能導致圖像中出現不規則條紋、漂移或波動。

處理方法：檢查真空系統：定期檢查和維護真空系統，確保無泄漏或不穩定的氣流。

穩定真空壓力：在采集圖像前，確保樣品室內的真空壓力穩定。

7. 樣品污染偽影

特征：樣品表面污染物可能導致圖像中的不規則斑點或不均勻的對比度。

處理方法：清潔樣品：在成像前，對樣品進行適當的清潔處理，去除表面的污染物。

使用離子束清潔：在高真空條件下，使用離子束對樣品表面進行清潔處理。

防止污染：在成像過程中，盡量避免樣品暴露在有機物或其他污染物中。

8. 條紋偽影（Moire Pattern）

特征：當樣品的周期性結構與SEM的掃描周期重疊時，會在圖像中出現干擾條紋。

處理方法：調整掃描參數：改變掃描方向或調整掃描速度，以避免條紋的產生。

改變樣品角度：通過改變樣品的傾角，減少周期性結構與掃描周期的重疊。

9. 圖像漂移

特征：電子束漂移或樣品臺移動引起的圖像模糊或偏移。

處理方法：穩定電子束：定期校準SEM的電子光學系統，確保電子束穩定。

優化樣品臺控制：確保樣品臺的定位和移動精度，減少不必要的移動。

10. 后期圖像處理

數字濾波：使用圖像處理軟件中的濾波工具（如高通濾波、噪聲去除等）來消除或減弱偽影。

圖像校正：使用軟件工具進行亮度、對比度調整，或進行幾何校正，減少偽影的視覺影響。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在掃描電鏡中處理圖像的偽影。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢