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傳統的掃描電鏡（SEM）通常不能直接用于觀察液體樣品。SEM是一種在高真空條件下工作的顯微鏡，它通過照射樣品表面的電子束來獲取高分辨率的表面形貌和形態信息。在高真空下，液體樣品會迅速蒸發，導致樣品失真和掃描電鏡的損壞。

然而，近年來有一些先進的技術已經被開發出來，使得一些特殊類型的液體樣品能夠在SEM中進行觀察。這些技術主要包括：

低真空SEM：一些SEM設備可以在較低真空條件下工作，稱為低真空SEM（Low Vacuum SEM）。在低真空下，液體樣品不會迅速蒸發，而是可以保持相對穩定的狀態，從而允許對某些液體樣品進行觀察。

冷凍樣品制備：對于某些液體樣品，可以采用冷凍技術將其固化，然后在低溫下放入SEM中進行觀察。這樣可以在液體樣品保持原貌的同時避免液體蒸發的問題。

壓力梯度制備：有些研究中使用了壓力梯度技術，使液體樣品懸浮在氣體或溶液中，然后在SEM中觀察。這種方法可以有效地保持液體樣品的形態。

需要指出的是，這些技術仍然有一些限制和挑戰，例如樣品制備的復雜性、樣品表面的水分影響等。因此，在使用SEM觀察液體樣品之前，仍然需要深入了解樣品的性質和選擇合適的樣品制備方法。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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