掃描電子顯微鏡使用方法
日期：2023-04-24
掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，其原理是利用電子束掃描樣品表面并收集散射電子、反射電子、二次電子等信號，經過信號的放大、處理和成像后得到高清晰度的樣品表面形貌和微觀結構信息。
下面是掃描電子顯微鏡的基本使用方法：
樣品制備：根據需要制備不同類型的樣品，并確保樣品表面光滑、干燥、無氣泡和灰塵等。
樣品安裝：將樣品放置在樣品臺上，并使用夾具或導電膠將其固定在臺面上，使樣品表面朝向電子槍。
調節參數：打開電子槍和探針槍，根據不同的樣品類型和需要觀察的信息，調節加速電壓、探針電壓、工作距離、放大倍數等參數。
開始觀察：啟動掃描儀器，觀察樣品表面結構，可以采用多種掃描模式和不同角度的觀察方式。
圖像處理：使用圖像處理軟件對采集到的圖像進行處理和分析，可以得到更詳細的信息和精細的圖像。
需要注意的是，在使用掃描電子顯微鏡時，應當注意操作安全和保護儀器，以免損壞設備或造成傷害。
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臺式掃描電鏡
作者：澤攸科技
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