臺(tái)式掃描電鏡如何處理和觀察非導(dǎo)電樣品

處理和觀察非導(dǎo)電樣品是臺(tái)式掃描電鏡（SEM）?中的一個(gè)常見問題，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的SEM通常需要樣品具有一定的導(dǎo)電性才能獲得良好的圖像質(zhì)量。

如何在臺(tái)式掃描電鏡中進(jìn)行高溫樣品的觀察

在臺(tái)式掃描電鏡?中觀察高溫樣品是一項(xiàng)挑戰(zhàn)性的任務(wù)，需要特定的樣品支持和操作技術(shù)。

ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺證據(jù)，幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性，這些特性的變化直接關(guān)聯(lián)到材料的光學(xué)和電物理性能。

提高掃描電鏡清晰度的方法包括：

掃描電鏡的工作距離（Working Distance, WD）是指從樣品表面到物鏡下端的距離。

掃描電鏡可以檢測(cè)到以下幾種主要信號(hào)：

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品桿的多軸定位是指能夠在多個(gè)方向上移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)樣品，以實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的樣品定位和觀察需求。

樣品桿的手動(dòng)和自動(dòng)控制是指在掃描電子顯微鏡（SEM）中，用于安裝、移動(dòng)和調(diào)整樣品的兩種不同的操作方式。