掃描電鏡如何獲得樣品的三維形貌？

掃描電鏡（SEM）?能夠通過多種技術獲取樣品的三維（3D）形貌。雖然傳統的SEM圖像通常提供的是樣品表面的二維投影，但通過一些先進的技術和方法，可以推導出樣品的三維結構。

掃描電鏡中如何避免或解決樣品的電荷積累問題？

在掃描電鏡（SEM）?中，樣品的電荷積累（也稱為靜電積累）是一個常見的問題，特別是當樣品是非導電性或導電性差時。

掃描電鏡（SEM）?中的電子束與樣品之間的相互作用是影響成像質量的關鍵因素。

在掃描電鏡（SEM）?中，導電性差的樣品（如非金屬或高電阻材料）會導致成像問題，特別是由于靜電積累。

在掃描電鏡 (SEM) 中，分辨率和視場大小的平衡是顯微成像的重要考量。

在掃描電鏡 (SEM) 中，電子束散射對成像效果有顯著影響，尤其是在分辨率、圖像對比度和信噪比等方面。

掃描電子顯微鏡（SEM）?的分辨率在很大程度上受到電子束條件的影響。電子束的加速電壓、束斑直徑、探測器類型、束流強度等參數都會直接或間接地影響成像效果和分辨率。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，低導電材料的成像效果常常會受到樣品充電效應的影響。