在納米科技的探索中，場發(fā)射掃描電鏡被譽為觀測微觀世界的“超級顯微鏡”。然而過去三十年，這一領(lǐng)域長期被海外巨頭壟斷，國產(chǎn)設(shè)備在全球市場中的占比嚴(yán)重不足，許多更是完全依賴進口。這種技術(shù)壁壘不僅讓單臺設(shè)備價格飆升，更讓國內(nèi)科研機構(gòu)在設(shè)備維護、軟件升級等環(huán)節(jié)處處受制于人。

傳統(tǒng)場發(fā)射電鏡的“實驗室巨獸”屬性，更是為科研工作戴上了“三重枷鎖”：龐大的體積讓多數(shù)高校實驗室難以承載，高昂的購置與維護成本令中小企業(yè)望而卻步，復(fù)雜的操作需求導(dǎo)致設(shè)備閑置率居高不下。這些痛點，嚴(yán)重制約著中國在新材料、半導(dǎo)體、生物醫(yī)藥等關(guān)鍵領(lǐng)域的創(chuàng)新速度。

然而，正如哪吒不甘被命運束縛，澤攸科技也從未停止對技術(shù)壟斷的挑戰(zhàn)。澤攸科技?xì)v時8年攻堅克難，于2024年推出了國產(chǎn)自研的場發(fā)射臺式掃描電鏡ZEM Ultra，這是一場靜默的革命，也是一次從“追趕者”到“規(guī)則參與者”的躍遷。ZEM Ultra就像最近熱播動畫中的哪吒打破常規(guī)、挑戰(zhàn)命運一樣，它也打破了國際品牌對發(fā)射掃描電鏡市場的技術(shù)神話，以“更小、更智能、更普適”的理念，開創(chuàng)了場發(fā)射電鏡的新賽道。

1、打破桎梏：國產(chǎn)儀器的“輕量化革命”

ZEM Ultra的體積僅為傳統(tǒng)電鏡的20%，無需特殊防震或磁屏蔽裝置，甚至可在普通實驗臺、產(chǎn)線旁或移動車廂內(nèi)運行。這一突破不僅解決了高樓層實驗室因承重限制無法安裝大型設(shè)備的痛點，更將電鏡從“實驗室專屬”拓展至工業(yè)現(xiàn)場檢測領(lǐng)域，真正實現(xiàn)“隨需隨用”的靈活性。

2、高精度成像：2.5納米分辨率的國產(chǎn)突破

ZEM Ultra采用先進的肖特基場發(fā)射電子源，它具有高亮度、長壽命的特點，確保長期穩(wěn)定的高質(zhì)量成像。結(jié)合三級獨立真空系統(tǒng)，有效減少樣品污染，提高成像質(zhì)量，同時縮短抽真空時間。ZEM Ultra能夠提供優(yōu)于2.5納米的分辨率，滿足科研、工業(yè)及材料分析領(lǐng)域的高精度需求。

金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）

磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）

3、環(huán)境適應(yīng)性：從“溫室設(shè)備”到“全天候戰(zhàn)士”

傳統(tǒng)電鏡對溫度、濕度、震動敏感，而ZEM Ultra采用自適應(yīng)環(huán)境控制系統(tǒng)，對環(huán)境依賴性低，即便在工業(yè)車間震動環(huán)境下仍能保持成像穩(wěn)定性。這一特性使其成為材料研發(fā)、半導(dǎo)體質(zhì)檢等場景的“移動實驗室”。

4、功能拓展：從成像工具到科研生態(tài)構(gòu)建者

ZEM Ultra可配備多種探測器，包括 BSE（背散射電子探測器）、SE（二次電子探測器）和 EDS（能譜儀）等，能夠滿足多樣化的分析需求。同時該設(shè)備支持原位實驗功能，可動態(tài)觀察樣品在特定條件下的變化過程，并且可通過拓展EDS和EBSD功能進一步增強對材料的分析能力，為用戶提供更全的研究支持。

納米力臺拉伸過程（左） 納米力臺壓縮過程（右）

5、一站式操作：從“專家專屬”到“一鍵成像”

ZEM Ultra具有一站式操作平臺，界面友好，操作簡便。用戶僅需鼠標(biāo)點擊即可完成從樣品裝載到多模態(tài)成像的全流程，非專業(yè)人員亦可30分鐘內(nèi)掌握操作，極大的降低了用戶學(xué)習(xí)成本。

科學(xué)儀器的價值，在于讓探索未知的效率與可能性無限擴展。而澤攸科技的突破絕非偶然。作為被《Nature》系列期刊報道的中國科學(xué)儀器企業(yè)，其團隊深耕電子光學(xué)領(lǐng)域多年，先后推出臺階儀、電子束光刻機等多款產(chǎn)品。正如哪吒贏得了世人的尊重，澤攸科技也正以顛覆性創(chuàng)新，重塑儀器產(chǎn)業(yè)格局。