澤攸科技誠邀您光臨2021年第五屆中科院電鏡技術聯(lián)盟交流講座
澤攸科技誠邀您光臨2021年第五屆中科院電鏡技術聯(lián)盟交流講座
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
澤攸科技誠邀您光臨2021年第五屆中科院電鏡技術聯(lián)盟交流講座
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
澤攸科技誠邀您光臨2021年第十六屆國際真空展覽會,我司將于2021年5月26日至28日在北京國家會議中心參加2021年第十六屆國際真空展覽會，展位號：E13
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
ZEM15國產(chǎn)臺式掃描電鏡亮相松山湖材料實驗室，現(xiàn)場接受demo檢驗，體積僅有一臺臺式電腦大小的ZEM15臺式掃描電鏡就是在這樣的實驗環(huán)境下現(xiàn)場接受demo檢測
MORE INFO → 公司新聞 2020-09-25
國產(chǎn)臺式掃描電子顯微鏡來了，ZEM15臺式掃描電鏡的電子光學系統(tǒng)、探測器、電路控制系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng)和操作軟件均為澤攸科技自主研制。創(chuàng)立的電子光學系統(tǒng)設計，使拍攝圖片具有更高的
MORE INFO → 公司新聞 2021-08-14
安徽澤攸科技有限公司的PicoFemto系列原位透射電鏡測量系統(tǒng)一經(jīng)推出便憑借其強大的功能、極致的參數(shù)指標和超高的穩(wěn)定性獲得國內外用戶認可，并協(xié)助用戶在各類頂尖學術期刊上發(fā)表
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
International Microscopy Congress (IMC) 被譽為顯微鏡領域的奧林匹克，每四年舉辦一次。會議匯聚了一批 透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
MEMS-STM-TEM一體化樣品桿，基于STM納米操縱技術的原位解決方案。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元，結合I-V測量、光學-光電測量、低溫或者力學測量單元，在TEM中實現(xiàn)原位亞
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
2018年2月7日上午， 銅陵市市委書記李猛一行蒞臨安徽澤攸科技有限公司慰問指導，并與公司首席科學家白雪冬教授親切交流。李書記參觀了公司車間、產(chǎn)品展示區(qū)和辦公區(qū)，在聽取白教
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15