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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品旋轉功能可以通過調整樣品的空間方向，影響成像的視角和樣品表面特征的可見性。這對于表面形貌的分析和復雜結構的觀察至關重要。以下是樣品旋轉功能對成像視角的主要影響：

1. 多角度觀察

獲取更多表面信息：通過旋轉樣品，可以從多個角度觀察其表面特征，而不僅僅是單一的垂直視角。這有助于更全地理解樣品的三維形貌，特別是對具有復雜幾何形狀的樣品。

揭示隱藏的細節：一些表面特征在固定角度下可能不可見或被其他結構遮擋。通過旋轉樣品，可以使這些被遮擋的區域顯現出來，幫助用戶看到更多細節。

2. 立體成像與三維重建

立體成像：通過旋轉樣品并從不同角度獲取圖像，可以為立體成像提供不同的視角。這些圖像隨后可以用于三維重建，從而得到樣品的三維結構信息。這在研究微觀結構和顆粒時尤其有用。

3D形貌重建：結合旋轉和傾斜功能，可以采集多角度圖像，并通過軟件算法進行三維重建，生成樣品的3D模型。這種方法常用于復雜納米結構和微電子器件的形貌分析。

3. 優化成像對比和分辨率

優化電子束入射角：樣品旋轉改變了電子束與樣品表面之間的入射角度，從而影響了電子束與樣品相互作用的區域。通過優化入射角，可以提高表面的對比度和分辨率。高角度入射：在較大角度下，細小結構和邊緣可能會產生更明顯的信號，尤其是二次電子（SE）信號，因此適合表面粗糙度或邊緣檢測。

垂直入射：對于平坦表面，垂直入射角（0度）可以提供均勻的信號，但可能錯過一些局部細節。

4. 減少充電效應

低導電性樣品：對于非導電樣品，充電效應可能會導致圖像失真或偽影。通過旋轉樣品，可以改變電子束與樣品的相互作用方式，調整入射角，從而在不同角度減小充電效應對圖像的影響。這通常配合低真空模式或導電涂層使用，以進一步優化成像效果。

5. 評估樣品的傾斜和深度

表面傾斜角度的分析：通過樣品旋轉，能夠觀察樣品的不同表面斜率。這對于研究表面粗糙度、裂紋擴展或階梯狀結構（如半導體中的溝槽或納米結構）非常有用。

深度感知：通過觀察樣品的不同旋轉角度，可以更好地理解其深度結構。例如，樣品的不同部位可能有不同的高度，旋轉樣品有助于更好地理解這些高度差異。

6. 避免偽影

減少陰影效應：在固定角度下，樣品的某些區域可能會因為結構的遮擋或表面形態復雜而產生陰影。通過旋轉樣品，可以從多個角度進行觀察，從而減小或消除陰影偽影，使成像更加均勻、清晰。

7. 增強斷層分析

樣品橫截面分析：通過旋轉樣品，可以方便地從不同角度研究橫截面，尤其是在研究材料斷裂面或顆粒形態時。旋轉功能允許用戶精確調整角度，確保觀測到需要的橫截面細節。

8. 粒子和纖維取向的研究

粒子和纖維方向性：當樣品由細長結構（如納米線、纖維、顆粒）組成時，旋轉樣品可以幫助研究其取向和排列方式。不同的視角可能顯示出纖維在表面上不同方向的排列，幫助分析其宏觀性能。

9. 優化成像條件

減少樣品損傷：通過旋轉樣品，可以均勻地分布電子束能量，避免長時間對單一表面照射，減少樣品因過度電子轟擊導致的損傷，特別是對于熱敏感或脆弱的樣品。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的樣品旋轉功能如何影響成像視角。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢